在病理或应激条件下发现IRES的新方法？ 利用最新的高通量技术

内部核糖体进入位点（IRESs）元件可以促进细胞进行非帽依赖翻译的起始，这种现象在应激与病理条件下更为常见。 但目前尚无可在这些情况下系统鉴定IRESs元件的方法。因此，作者提出了一个基于三代测序技术来高通量鉴定IRESs元件的方法。

作者的设计主要分为三步，通过这些步骤，在检测过程中，能真实反映IRESs元件的特性的转录组特征能被保留下来。同时，在特定应激条件下能促进或抑制IRESs元件的微环境构成也可以被较好的模拟。此外，在传统IRESs元件鉴定过程中特异性的保证往往需要额外的步骤。但在作者提出的方案中，通过三代测序技术的使用，无须再采用这些额外的步骤也可以完成特异性的IRESs元件鉴定，从而减少多次高通量检测试验批次间潜在的固有差异已达到优化试验结果的目的。利用此方法，有望揭示IRESs元件在疾病发生发展过程中及各种应激条件下所扮演的重要角色。

原文链接：https://doi.org/10.1002/bies.201900180